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超声波测厚仪

台北市PosiTectorUTG超声波测厚仪

UTG超声波测厚仪预置常见材料声速,也可方便地调节声速 - SmartCouple 模式,可消除由于工件表面的耦合不良对测量的影响 - 增强型单手菜单操作,包括中文界面 - 重置功能可迅速将测厚仪还原到出厂状态

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产品详情

一、产品概述

美国DeFelsko公司美国DeFelsko公司超声波测厚仪PosiTectorUTG系列,测量金属、塑料、玻璃等致密材料的厚度。
其中:
- PosiTectorUTGC为普通型
- PosiTectorUTGCA为一体化型
- PosiTectorUTGCX为铠装探头线
- PosiTectorUTGLFC为低频探头
- PosiTectoUTGM具有穿透涂层测量的功能(多重回波)
- PosiTectorUTGP用于测量薄件,同时具有穿透涂层测量的功能(多重回波)
高级型具有A-扫描和B-扫描功能。
符合ASTM E797标准。
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二、仪器特点

简单

- 预置常见材料声速,也可方便地调节声速
- SmartCouple模式,可消除由于工件表面的耦合不良对测量的影响
- 增强型单手菜单操作,包括中文界面
- 灯光提示:便于在嘈杂的环境中确定已获得测量结果
- 重置功能可迅速将测厚仪还原到出厂状态

耐用

-耐磨探头
-防酸、防油、防水、防溶剂、防尘
-防撞击橡胶保护套

精确

- 每台仪器都有校准证书,符合NIST或PTB标准
- 内置温度补偿以确保测量精度
- 高分辨率模式可提高显示分辨率
- 符合美国和国际标准,包括ISO和ASTM标准
通用 - 可以和DeFelsko公司的涂层测厚仪、超声波涂层测厚仪、露点仪、粗糙度仪、邵氏硬度计、巴氏硬度计、盐分仪共用主机
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- 1点和两点校准方式
- 公制英制单位互换
- 多语言菜单可选,包括中文
- 高对比度可逆彩色显示屏,带背光
- 倒转显示,方便读数
- 使用碱性电池,可选择充电电池

高效

- 最小值扫描模式—提供每秒20次的测量频率
- 连续显示包括平均值、标准偏差、最大/最小值
- 上下限报警
- 截屏功能,可将屏幕显示存成图片格式
- 通过USB数据线方便的连接到计算机,并且给主机供电
- 可通过计算机下载和浏览主机的数据
- 可通过计算机升级主机的程序

 

三、主机选择

1型-标准型主机
(Standard)

- 具有上述所有优点
- 可存储250个数据
3型-高级型主机
(Advanced)
- 可存储1000组共100000个数据
- 带可调节增益和截屏的A-扫描功能。视频演示
- 显示横截轮廓的B-扫描功能。视频演示
- 实时图表、图像提示和分组注释
- 使用屏幕QWERTY键盘添加注释和更改组别名称
- WiFi与PosiSoft.net无线同步并下载软件
- 蓝牙4.0将数据传输到PosiTectorAPP或可选便携式打印。BLE API可集成到第三方软件中
- 主机存储的其他探头的数据,比如厚度、盐分、粗糙度,硬度等,都在不同的组别里

涂层测厚仪PosiTectorUTG系列标准配置
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主机尺寸
137 x 61 x 31mm
主机重量
140g(不含电池)
基本型
主机、探头、校零试块、普通耦合剂、腕带、3节7号电池、USB数据线、
尼龙便携软包(个别大探头是仪器箱)、中英文说明书、出厂证书

四、技术参数

 
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型号
UTGCA1/3
UTGC1/3
UTGCX1/3
UTGCLF1
UTGM1
UTGP1
探头类型
5MHz 一体化
双晶探头
5MHz
双晶探头
5MHz带铠装线
双晶探头
2.25MHz
双晶探头
5MHz
接触型探头
15Mhz
单晶延迟块探头
测量模式
单次回波
单次回波
多重回波
测量钢
测量塑料
测量范围
1.00~ 125.00mm
2.50~
125.00 mm
2.50~
60.00 mm
0.2~
12.0mm
0.125~
4.500mm
穿透涂层功能
-
分辨率
0.01mm
0.01mm
0.002mm
精度
±0.03mm
±0.03mm
±0.01mm

UTGCA探头
ou7-286.jpg - 一体化
- 5MHz双晶探头
- 自动V声程校准
UTGC探头
ou7-284.jpg - 5MHz双晶探头
- 自动V声程校准
UTGCX探头
ou7-284.jpg - 铠装探头线
- 5MHz双晶探头
- 自动V声程校准
UTGCLF探头
ou7-284.jpg - 2.25MHz双晶探头
- 用于测量衰减材料,如铸铁
- 专有算法将后壁反射与铸造材料中的颗粒噪声区别开来
UTGM头
ou7-287.jpg - 可穿透涂层测量。视频演示
- 5MHz接触式,耐磨氧化铝探头
- 多重回波技术提供三个或更多的回波以确保测量的精度和可靠性
- 单次回波和多重回波测量可轻松切换
UTGP探头
ou7-285.jpg - 15MHz单晶延迟块探头
- 用于高分辨率测量和薄材料(包括金属和塑料),自动多重回波模式确保薄件的理想精度
- 自动单次回波和多重回波模式切换,取决于材料和厚度
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